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DIN EN 1337-7-2001 结构轴承.第7部分:聚四氟乙烯球面和滚柱轴承

作者:标准资料网 时间:2024-05-09 22:57:06  浏览:9672   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Structuralbearings-Part7:SphericalandcylindricalPTFEbearings;GermanversionEN1337-7:2000
【原文标准名称】:结构轴承.第7部分:聚四氟乙烯球面和滚柱轴承
【标准号】:DINEN1337-7-2001
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2001-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:建筑;轴承;球面轴承;桥梁建筑;定义;尺寸选定;桥;组件;公差(测量);代替;规范(验收);聚四氟乙烯;生产;PTFE;扭转;结构;材料;合格;元部件
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:J11
【国际标准分类号】:91_010_30
【页数】:21P;A4
【正文语种】:德语


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【英文标准名称】:TestMethodforMeasuringReactionRatesbyRadioactivationofNeptunium-237
【原文标准名称】:用镎237的放射激活性测定反应速率的测试方法
【标准号】:ASTME705-1990
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1990
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:核技术;核能;测量技术
【英文主题词】:nucleartechnology;nuclearenergy;measuringtechniques
【摘要】:
【中国标准分类号】:A58
【国际标准分类号】:17_240
【页数】:4P;A4
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:硅片表面平整度测试方法
英文名称:Testing methods for surface flatness of silicon slices
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属与半导体材料综合
ICS分类: 电气工程 >> 半导体材料
替代情况:替代GB/T 6621-1995
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2009-10-30
实施日期:2010-06-01
首发日期:1986-07-26
作废日期:
主管部门:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
提出单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
起草单位:上海合晶硅材料有限公司
起草人:徐新华、严世权、王珍
出版社:中国标准出版社
出版日期:2010-06-01
页数:8页
适用范围

本标准规定了用电容位移传感器测定硅抛光片平整度的方法,切割片、研磨片、腐蚀片也可参考此方法。
本标准适用于测量标准直径76mm、100mm、125mm、150mm、200mm,电阻率不大于200Ω·cm厚度不大于1000μm 的硅抛光片的表面平整度和直观描述硅片表面的轮廓形貌。

前言

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所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料