SJ 20635-1997 半绝缘砷化镓剩余杂质浓度微区试验方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-20 18:37:47 浏览:9794
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基本信息
标准名称: | 半绝缘砷化镓剩余杂质浓度微区试验方法 |
英文名称: | Test method for residual impurities concentration in microzone of semi-insulating gallium arsenide |
中标分类: | |
发布日期: | 1997-06-17 |
实施日期: | 1997-10-01 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 1900-01-01 |
出版日期: | 1900-01-01 |
页数: | 15页 |
适用范围
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前言
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目录
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所属分类:
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